| Titre : |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Esnouf, Claude, Auteur |
| Editeur : |
Français : presses polytechniques et universitaires romandes |
| Année de publication : |
2011 |
| Importance : |
580p |
| Format : |
24x16cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-88074-884-5 |
| Langues : |
Français (fre) Langues originales : Français (fre) |
| Mots-clés : |
Matériaux,analyse, les rayonnements X et électronique |
| Index. décimale : |
621 Physique appliquée |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases phy
siques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur
l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des
meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de c
et ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du la
ngage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impli
quant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'
usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oe
uvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme
les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par
ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la
caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Esnouf, Claude, Auteur . - Français : presses polytechniques et universitaires romandes, 2011 . - 580p ; 24x16cm. ISBN : 978-2-88074-884-5 Langues : Français ( fre) Langues originales : Français ( fre)
| Mots-clés : |
Matériaux,analyse, les rayonnements X et électronique |
| Index. décimale : |
621 Physique appliquée |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases phy
siques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur
l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des
meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de c
et ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du la
ngage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impli
quant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'
usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oe
uvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme
les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par
ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la
caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. |
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