Titre : |
Métallographie et techniques d'Analyse |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
Association Technique De Traitement, Auteur |
Editeur : |
Paris : Dunod |
Année de publication : |
2004 |
Importance : |
174p |
Format : |
29x21 cm |
ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-10-048442-3 |
Langues : |
Français (fre) Langues originales : Français (fre) |
Mots-clés : |
Spectrométrie Spectroscopie Microscopie électronique Technique optique Diffraction des rayons X |
Index. décimale : |
540 Chimie et sciences connexes |
Résumé : |
Cet ouvrage décrit en détail les techniques d'analyse des matériaux existantes :
techniques optiques (macro- et micrographie) ;
microscopie électronique (à balayage et à transmission) ;
spectroscopie (de photoélectrons X et d'électrons Auger) ;
diffraction des rayons X ;
spectrométrie à décharge luminescente (SDL).
Pour chacune de ces techniques, il fournit des informations sur :
les principes physiques ;
les domaines d'application, les avantages et les limites ;
la préparation des échantillons ;
les précautions à prendre pour éviter les artefacts, sources de nombreuses erreurs d'interprétation ;
des exemples d'applications.
Un outil de travail unique et indispensable pour tous les professionnels des laboratoires industriels et de recherche qui travaillent sur les matériaux. |
Note de contenu : |
Sommaire
Notions de structure
Rappels d'optique
La macrographie
La micrographie
Généralités sur les faisceaux
Le microscope électronique à balayage
Le microscope électronique à transmission
Spectroscopie de photoélectrons X
Spectroscopie d'électrons Auger
Application de la diffraction des rayons X à la métallurgie
La spectrométrie à décharge luminescente (SDL) : principes et applications |
Métallographie et techniques d'Analyse [texte imprimé] / Association Technique De Traitement, Auteur . - Paris : Dunod, 2004 . - 174p ; 29x21 cm. ISBN : 978-2-10-048442-3 Langues : Français ( fre) Langues originales : Français ( fre)
Mots-clés : |
Spectrométrie Spectroscopie Microscopie électronique Technique optique Diffraction des rayons X |
Index. décimale : |
540 Chimie et sciences connexes |
Résumé : |
Cet ouvrage décrit en détail les techniques d'analyse des matériaux existantes :
techniques optiques (macro- et micrographie) ;
microscopie électronique (à balayage et à transmission) ;
spectroscopie (de photoélectrons X et d'électrons Auger) ;
diffraction des rayons X ;
spectrométrie à décharge luminescente (SDL).
Pour chacune de ces techniques, il fournit des informations sur :
les principes physiques ;
les domaines d'application, les avantages et les limites ;
la préparation des échantillons ;
les précautions à prendre pour éviter les artefacts, sources de nombreuses erreurs d'interprétation ;
des exemples d'applications.
Un outil de travail unique et indispensable pour tous les professionnels des laboratoires industriels et de recherche qui travaillent sur les matériaux. |
Note de contenu : |
Sommaire
Notions de structure
Rappels d'optique
La macrographie
La micrographie
Généralités sur les faisceaux
Le microscope électronique à balayage
Le microscope électronique à transmission
Spectroscopie de photoélectrons X
Spectroscopie d'électrons Auger
Application de la diffraction des rayons X à la métallurgie
La spectrométrie à décharge luminescente (SDL) : principes et applications |
| ![Métallographie et techniques d'Analyse vignette](./getimage.php?url_image=http%3A%2F%2Fimages-eu.amazon.com%2Fimages%2FP%2F%21%21isbn%21%21.08.MZZZZZZZ.jpg¬icecode=9782100484423&vigurl=) |