| Titre : |
Systèmes de mesure informatisés |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Tran Tien Lang, |
| Editeur : |
Paris : Masson. |
| Année de publication : |
1991 |
| Importance : |
261p |
| Présentation : |
couv.illi.fig.bib.tab.ind |
| Format : |
24×16cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
222582293 |
| Langues : |
Français (fre) Langues originales : Français (fre) |
| Index. décimale : |
621 Physique appliquée |
| Résumé : |
Bien que des progrès considérables aient été réalisés dans les techniques de mesures analogiques, la supériorité de l'instrumentation numérique par rapport à l'instrumentation analogique est aujourd'hui incontestable. Ses avantages ne se limitent plus à sa facilité de traitement des signaux de mesure et à son intelligence de la programmation mais se manifestent également par sa faculté de conduire une organisation de plus en plus rationnelle et efficace des mesures innombrables que nécessitent les domaines industriels modernes. L'objectif de cet ouvrage consiste à sensibiliser le lecteur, par le biais de plusieurs exemples détaillés et d'études de cas concrets, sur les nombreuses possibilités offertes par la microélectronique et l'informatique destinées à donner à la mesure une place de plus en plus enrichissante aussi bien dans la production que dans la recherche. Conçu en priorité pour les élèves des écoles d'ingénieurs et les étudiants de niveau 2ème cycle, cet ouvrage sera également très utile à des ingénieurs de production ou de recherche dans des domaines variés (mécanique, chimie, biologie...)…
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Systèmes de mesure informatisés [texte imprimé] / Tran Tien Lang, . - Paris : Masson., 1991 . - 261p : couv.illi.fig.bib.tab.ind ; 24×16cm. ISSN : 222582293 Langues : Français ( fre) Langues originales : Français ( fre)
| Index. décimale : |
621 Physique appliquée |
| Résumé : |
Bien que des progrès considérables aient été réalisés dans les techniques de mesures analogiques, la supériorité de l'instrumentation numérique par rapport à l'instrumentation analogique est aujourd'hui incontestable. Ses avantages ne se limitent plus à sa facilité de traitement des signaux de mesure et à son intelligence de la programmation mais se manifestent également par sa faculté de conduire une organisation de plus en plus rationnelle et efficace des mesures innombrables que nécessitent les domaines industriels modernes. L'objectif de cet ouvrage consiste à sensibiliser le lecteur, par le biais de plusieurs exemples détaillés et d'études de cas concrets, sur les nombreuses possibilités offertes par la microélectronique et l'informatique destinées à donner à la mesure une place de plus en plus enrichissante aussi bien dans la production que dans la recherche. Conçu en priorité pour les élèves des écoles d'ingénieurs et les étudiants de niveau 2ème cycle, cet ouvrage sera également très utile à des ingénieurs de production ou de recherche dans des domaines variés (mécanique, chimie, biologie...)…
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