| Titre : |
Optronique : optoélectronique appliquée : mesures, instruments, modèles |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Deshayes, Yannick, |
| Editeur : |
Elipses |
| Année de publication : |
2014 |
| Collection : |
Technosup |
| Importance : |
277 p. |
| Présentation : |
couv.ill.fig.ind.bib |
| Format : |
26 x 17.5 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-340-00127-5 |
| Prix : |
4 158,00 D.A |
| Langues : |
Français (fre) Langues originales : Français (fre) |
| Index. décimale : |
621 Physique appliquée |
| Résumé : |
"L'ouvrage développe la mise en oeuvre des mesures des caractéristiques électriques et optiques des composants optoélectroniques, depuis la réalisation des appareils de mesure jusqu'à l'obtention des résultats. Le coeur du livre est le chapitre 4 qui détaille les différentes mesures et analyse les résultats. Il précise également les démarches nécessaires pour vérifier le bienfondé des mesures ainsi que les limites des modèles pour une approche numérique.
Préalablement, le chapitre 1 développe les différentes technologie des diodes électroluminescentes et les procédés de fabrications. Les chapitres 2 et 3 présentent les différents modèles de base, électriques puis optiques. On décrit également les différents appareils nécessaires à la mesure et à l'établissement d'une caractéristique courant-tension, puissance optique-courant et spectre optique. Enfin, le chapitre 5 revient sur la physique du solide pour en extraire les modèles présentées dans les chapitres précédents.
Ce chapitre, plus théorique, présente des difficultés élevées pour les non initiés à la mécanique quantique. Les différents modèles sont présentés de manière pédagogique suivant une difficulté croissante et certains résultats portent sur les nouvelles technologies type GaN.
T.M
"" LES DISPOSITIFS OPTOELECTRONIQUES A DELS
"" CARACTERISTIQUES ELECTRIQUES DES STRUCTURES ELEMENTAIRES
"" CARACTERISTIQUES OPTIQUES DES STRUCTURES ELEMENTAIRES
"" MESURES ELECTRO OPTIQUES ET ANALYSES DE DELS
"" PHYSIQUE POUR L'OPTOELECTRONIQUE
"
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Optronique : optoélectronique appliquée : mesures, instruments, modèles [texte imprimé] / Deshayes, Yannick, . - [S.l.] : Elipses, 2014 . - 277 p. : couv.ill.fig.ind.bib ; 26 x 17.5 cm. - ( Technosup) . ISBN : 978-2-340-00127-5 : 4 158,00 D.A Langues : Français ( fre) Langues originales : Français ( fre)
| Index. décimale : |
621 Physique appliquée |
| Résumé : |
"L'ouvrage développe la mise en oeuvre des mesures des caractéristiques électriques et optiques des composants optoélectroniques, depuis la réalisation des appareils de mesure jusqu'à l'obtention des résultats. Le coeur du livre est le chapitre 4 qui détaille les différentes mesures et analyse les résultats. Il précise également les démarches nécessaires pour vérifier le bienfondé des mesures ainsi que les limites des modèles pour une approche numérique.
Préalablement, le chapitre 1 développe les différentes technologie des diodes électroluminescentes et les procédés de fabrications. Les chapitres 2 et 3 présentent les différents modèles de base, électriques puis optiques. On décrit également les différents appareils nécessaires à la mesure et à l'établissement d'une caractéristique courant-tension, puissance optique-courant et spectre optique. Enfin, le chapitre 5 revient sur la physique du solide pour en extraire les modèles présentées dans les chapitres précédents.
Ce chapitre, plus théorique, présente des difficultés élevées pour les non initiés à la mécanique quantique. Les différents modèles sont présentés de manière pédagogique suivant une difficulté croissante et certains résultats portent sur les nouvelles technologies type GaN.
T.M
"" LES DISPOSITIFS OPTOELECTRONIQUES A DELS
"" CARACTERISTIQUES ELECTRIQUES DES STRUCTURES ELEMENTAIRES
"" CARACTERISTIQUES OPTIQUES DES STRUCTURES ELEMENTAIRES
"" MESURES ELECTRO OPTIQUES ET ANALYSES DE DELS
"" PHYSIQUE POUR L'OPTOELECTRONIQUE
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